This HTML5 document contains 73 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
dcthttp://purl.org/dc/terms/
template-jahttp://ja.dbpedia.org/resource/Template:
dbohttp://dbpedia.org/ontology/
n15http://www.eventhelix.com/RealtimeMantra/FaultHandling/
foafhttp://xmlns.com/foaf/0.1/
dbpedia-wikidatahttp://wikidata.dbpedia.org/resource/
rdfshttp://www.w3.org/2000/01/rdf-schema#
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
owlhttp://www.w3.org/2002/07/owl#
n7http://ja.dbpedia.org/resource/Category:
n12http://www.analog.com/library/analogDialogue/archives/42-02/
wikipedia-jahttp://ja.wikipedia.org/wiki/
provhttp://www.w3.org/ns/prov#
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
dbpedia-jahttp://ja.dbpedia.org/resource/
prop-jahttp://ja.dbpedia.org/property/

Statements

Subject Item
dbpedia-wikidata:Q181142
owl:sameAs
dbpedia-ja:組み込み自己診断
Subject Item
dbpedia-ja:BITS
dbo:wikiPageWikiLink
dbpedia-ja:組み込み自己診断
Subject Item
dbpedia-ja:JTAG
dbo:wikiPageWikiLink
dbpedia-ja:組み込み自己診断
Subject Item
dbpedia-ja:列線交換ユニット
dbo:wikiPageWikiLink
dbpedia-ja:組み込み自己診断
Subject Item
dbpedia-ja:組み込み自己診断
rdfs:label
組み込み自己診断
rdfs:comment
組み込み自己診断(くみこみじこしんだん、英: built-in self-test, or built-in test、BIST, or BIT)は、自己診断機能(じこしんだんきのう、英: self-diagnosis function)ともいい、機械が自分自身を検査できる機構である。技術者は、次のような要件を満たすためにBISTを設計する。 * 信頼性の向上 * の短縮 また、次のような制約が伴う。 * 技術者のアクセス制限 * 製造時のテスト費用 BISTの主な目的は、複雑さの軽減、それによる費用の削減、そして外部テスト機器(パターンプログラム)への依存を減らすことである。BISTは2つの方法で費用を削減する。 * テストサイクル期間を短縮する。 * テスターの制御下で駆動/検査する必要があるI/O信号数を減らすことにより、テスト/プローブのセットアップの複雑さを軽減する。 どちらも、サービスの時間当たり料金の削減につながる。
dct:subject
n7:保守 n7:試験装置 n7:集積回路
dbo:wikiPageID
4623069
dbo:wikiPageRevisionID
90409643
dbo:wikiPageWikiLink
dbpedia-ja:兵器 dbpedia-ja:コンピュータ dbpedia-ja:姿勢制御 dbpedia-ja:JTAG dbpedia-ja:フォールトトレラントシステム dbpedia-ja:フォールトトレラント設計 n7:保守 dbpedia-ja:ウォッチドッグタイマー dbpedia-ja:医療機器 dbpedia-ja:集積回路 dbpedia-ja:アンチロック・ブレーキ・システム n7:試験装置 dbpedia-ja:インターネットプロトコル dbpedia-ja:信頼性工学 dbpedia-ja:BIOS dbpedia-ja:人工衛星 dbpedia-ja:主配線盤 dbpedia-ja:アビオニクス n7:集積回路 dbpedia-ja:IEEE dbpedia-ja:ミニットマン_(ミサイル) dbpedia-ja:ライン交換ユニット dbpedia-ja:Random_Access_Memory dbpedia-ja:パーソナルコンピュータ dbpedia-ja:自動車 dbpedia-ja:システム工学 dbpedia-ja:組み込みシステム dbpedia-ja:Self-Monitoring,_Analysis_and_Reporting_Technology dbpedia-ja:OEM dbpedia-ja:安全工学 dbpedia-ja:パワーオンセルフテスト dbpedia-ja:バス_(コンピュータ) dbpedia-ja:オン・ボード・ダイアグノーシス dbpedia-ja:電源回路 dbpedia-ja:メンテナンス dbpedia-ja:レジスタ_(コンピュータ) dbpedia-ja:疑似乱数 dbpedia-ja:テレオペレーション dbpedia-ja:機械 dbpedia-ja:Power_On_Self_Test dbpedia-ja:巡回冗長検査
dbo:wikiPageExternalLink
n12:bist.html n15:hardware_diagnostics.htm
prop-ja:wikiPageUsesTemplate
template-ja:Cn template-ja:Linktext template-ja:En_icon template-ja:Ill2 template-ja:Refimprove template-ja:Reflist template-ja:Lang-en-short template-ja:Main
dbo:abstract
組み込み自己診断(くみこみじこしんだん、英: built-in self-test, or built-in test、BIST, or BIT)は、自己診断機能(じこしんだんきのう、英: self-diagnosis function)ともいい、機械が自分自身を検査できる機構である。技術者は、次のような要件を満たすためにBISTを設計する。 * 信頼性の向上 * の短縮 また、次のような制約が伴う。 * 技術者のアクセス制限 * 製造時のテスト費用 BISTの主な目的は、複雑さの軽減、それによる費用の削減、そして外部テスト機器(パターンプログラム)への依存を減らすことである。BISTは2つの方法で費用を削減する。 * テストサイクル期間を短縮する。 * テスターの制御下で駆動/検査する必要があるI/O信号数を減らすことにより、テスト/プローブのセットアップの複雑さを軽減する。 どちらも、サービスの時間当たり料金の削減につながる。
dbo:wikiPageLength
5595
prov:wasDerivedFrom
wikipedia-ja:組み込み自己診断?oldid=90409643&ns=0
foaf:isPrimaryTopicOf
wikipedia-ja:組み込み自己診断
Subject Item
dbpedia-ja:診断_(曖昧さ回避)
dbo:wikiPageWikiLink
dbpedia-ja:組み込み自己診断
dbo:wikiPageDisambiguates
dbpedia-ja:組み込み自己診断
Subject Item
dbpedia-ja:自己診断機能
dbo:wikiPageWikiLink
dbpedia-ja:組み込み自己診断
dbo:wikiPageRedirects
dbpedia-ja:組み込み自己診断
Subject Item
dbpedia-ja:ビルトインセルフテスト
dbo:wikiPageWikiLink
dbpedia-ja:組み込み自己診断
dbo:wikiPageRedirects
dbpedia-ja:組み込み自己診断
Subject Item
wikipedia-ja:組み込み自己診断
foaf:primaryTopic
dbpedia-ja:組み込み自己診断