走査型透過電子顕微鏡(そうさがたとうかでんしけんびきょう、Scanning Transmission Electron Microscope、STEM))とは透過型電子顕微鏡の1つ。集束レンズによって細く絞った電子線プローブを試料上で走査し、各々の点での透過電子を検出することで像を得る。 微少領域の電子回折や元素分析が可能。また空間分解能は一般的に、収束した電子線のプローブ径で決まる。
Property | Value |
---|---|
dbo:abstract |
|
dbo:wikiPageID |
|
dbo:wikiPageLength |
|
dbo:wikiPageRevisionID |
|
dbo:wikiPageWikiLink | |
prop-ja:wikiPageUsesTemplate | |
dct:subject | |
rdfs:comment |
|
rdfs:label |
|
prov:wasDerivedFrom | |
foaf:isPrimaryTopicOf | |
is dbo:wikiPageWikiLink of | |
is owl:sameAs of | |
is foaf:primaryTopic of |