小秋元 隆輝(こあきもと たかてる、1913年9月14日 - 2004年12月20日)は、日本光学工業(後のニコン)の技術者。電気露出計や光電素子を研究、カメラ用検査機器を開発して、高性能で安定した品質のニコン製品の供給を実現した。

Property Value
dbo:abstract
  • 小秋元 隆輝(こあきもと たかてる、1913年9月14日 - 2004年12月20日)は、日本光学工業(後のニコン)の技術者。電気露出計や光電素子を研究、カメラ用検査機器を開発して、高性能で安定した品質のニコン製品の供給を実現した。 (ja)
  • 小秋元 隆輝(こあきもと たかてる、1913年9月14日 - 2004年12月20日)は、日本光学工業(後のニコン)の技術者。電気露出計や光電素子を研究、カメラ用検査機器を開発して、高性能で安定した品質のニコン製品の供給を実現した。 (ja)
dbo:wikiPageExternalLink
dbo:wikiPageID
  • 1180188 (xsd:integer)
dbo:wikiPageLength
  • 1055 (xsd:nonNegativeInteger)
dbo:wikiPageRevisionID
  • 92146871 (xsd:integer)
dbo:wikiPageWikiLink
prop-ja:date
  • 2022 (xsd:integer)
prop-ja:section
  • 1 (xsd:integer)
prop-ja:wikiPageUsesTemplate
dct:subject
rdfs:comment
  • 小秋元 隆輝(こあきもと たかてる、1913年9月14日 - 2004年12月20日)は、日本光学工業(後のニコン)の技術者。電気露出計や光電素子を研究、カメラ用検査機器を開発して、高性能で安定した品質のニコン製品の供給を実現した。 (ja)
  • 小秋元 隆輝(こあきもと たかてる、1913年9月14日 - 2004年12月20日)は、日本光学工業(後のニコン)の技術者。電気露出計や光電素子を研究、カメラ用検査機器を開発して、高性能で安定した品質のニコン製品の供給を実現した。 (ja)
rdfs:label
  • 小秋元隆輝 (ja)
  • 小秋元隆輝 (ja)
prov:wasDerivedFrom
foaf:isPrimaryTopicOf
is dbo:wikiPageWikiLink of
is prop-ja:関係する人物 of
is owl:sameAs of
is foaf:primaryTopic of