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- テスト対象デバイス (テストたいしょうデバイス、英: device under test、DUT)とは、継続的な機能試験や較正を行う対象の機器のこと。試験は出荷前に行われることも、出荷後の製品ライフサイクルの後の方、つまり機器が元々の製品仕様に従って機能していることを確認するための、修理後に行われる試験の場合もある。 別の呼び方には業界によってさまざまな変種がある。以下は一例。
* DUT (Device under test) - 被試験デバイス、検査対象機、試験中の装置、被試験体、被検体、被測定物、測定対象
* EUT (Equipment under test) - 被試験機器
* UUT (Unit under test) - 被試験ユニット (ja)
- テスト対象デバイス (テストたいしょうデバイス、英: device under test、DUT)とは、継続的な機能試験や較正を行う対象の機器のこと。試験は出荷前に行われることも、出荷後の製品ライフサイクルの後の方、つまり機器が元々の製品仕様に従って機能していることを確認するための、修理後に行われる試験の場合もある。 別の呼び方には業界によってさまざまな変種がある。以下は一例。
* DUT (Device under test) - 被試験デバイス、検査対象機、試験中の装置、被試験体、被検体、被測定物、測定対象
* EUT (Equipment under test) - 被試験機器
* UUT (Unit under test) - 被試験ユニット (ja)
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- テスト対象デバイス (テストたいしょうデバイス、英: device under test、DUT)とは、継続的な機能試験や較正を行う対象の機器のこと。試験は出荷前に行われることも、出荷後の製品ライフサイクルの後の方、つまり機器が元々の製品仕様に従って機能していることを確認するための、修理後に行われる試験の場合もある。 別の呼び方には業界によってさまざまな変種がある。以下は一例。
* DUT (Device under test) - 被試験デバイス、検査対象機、試験中の装置、被試験体、被検体、被測定物、測定対象
* EUT (Equipment under test) - 被試験機器
* UUT (Unit under test) - 被試験ユニット (ja)
- テスト対象デバイス (テストたいしょうデバイス、英: device under test、DUT)とは、継続的な機能試験や較正を行う対象の機器のこと。試験は出荷前に行われることも、出荷後の製品ライフサイクルの後の方、つまり機器が元々の製品仕様に従って機能していることを確認するための、修理後に行われる試験の場合もある。 別の呼び方には業界によってさまざまな変種がある。以下は一例。
* DUT (Device under test) - 被試験デバイス、検査対象機、試験中の装置、被試験体、被検体、被測定物、測定対象
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