Data Table
PropertyValue
dbpedia-owl:abstract
  • テストパターンとは、電子部品や装置(ハードウェア)、ソフトウェアが要求仕様にしたがって動作することを検証するためにこれらに入力し、得られた出力を観測するための電気信号やデータ(テストデータとも)のことである。検証の対象物の動作仕様に応じて適切なテストパターンが決められるが、異なった性質の仕様検証のためには各々の性質に適した複数パターンを用いる。また、ソフトウェアや集積回路の検証などにおいてテストパターンにより検証できる性質の割合を網羅率(あるいはテスト網羅率、コード網羅率)と呼ぶ。網羅率の高い検証のためには用意するテストパターンを慎重に設計する必要がある。また、テストパターン作成を効率よく扱うために自動的にパターンを生成する場合があり、自動テストパターン生成(ATPG、英語: automatic test pattern generation)などと呼ぶ。また、製造した個々の製品の出荷検査用だけでなく、出荷後の運用・保守時に用いられるテストパターンもある。
dbpedia-owl:wikiPageID
  • 259856 (xsd:integer)
dbpedia-owl:wikiPageLength
  • 1643 (xsd:integer)
dbpedia-owl:wikiPageOutDegree
  • 18 (xsd:integer)
dbpedia-owl:wikiPageRevisionID
  • 57657386 (xsd:integer)
dbpedia-owl:wikiPageWikiLink
prop-ja:wikiPageUsesTemplate
dcterms:subject
rdfs:comment
  • テストパターンとは、電子部品や装置(ハードウェア)、ソフトウェアが要求仕様にしたがって動作することを検証するためにこれらに入力し、得られた出力を観測するための電気信号やデータ(テストデータとも)のことである。検証の対象物の動作仕様に応じて適切なテストパターンが決められるが、異なった性質の仕様検証のためには各々の性質に適した複数パターンを用いる。また、ソフトウェアや集積回路の検証などにおいてテストパターンにより検証できる性質の割合を網羅率(あるいはテスト網羅率、コード網羅率)と呼ぶ。網羅率の高い検証のためには用意するテストパターンを慎重に設計する必要がある。また、テストパターン作成を効率よく扱うために自動的にパターンを生成する場合があり、自動テストパターン生成(ATPG、英語: automatic test pattern generation)などと呼ぶ。また、製造した個々の製品の出荷検査用だけでなく、出荷後の運用・保守時に用いられるテストパターンもある。
rdfs:label
  • テストパターン
owl:sameAs
prov:wasDerivedFrom
foaf:isPrimaryTopicOf
is dbpedia-owl:wikiPageWikiLink of
is foaf:primaryTopic of